DP-DMR-1C型方阻儀

使

用

說

明

書

北京亞歐德鵬科有限公司

DP-DMR-1C型方阻儀是種于測量塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻的儀器，也可以用于測量其它各種薄膜導電材料。由于方阻與鍍層厚度成反比，可以通過稱重法或者其它計量方法，由方阻推算出鍍層厚度。儀器配有的、帶彈簧的四探針探頭。由于探針帶有彈簧，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，測試穩定，壽命也長。

面板示意圖如下。

• 參數

1. 測量范圍：1mΩ-20KΩ分為五個量程

1. 1 基本誤差：△=±0.2%

2、2 儀器分的基本誤差±0.2%±2個字

     2000mΩ檔為△=±0.2%±5個字

1. 作環境：溫度5℃-40℃，濕度20%-80%RH
2. 電    源：220V±10%，50/60Hz，3VA
3. 外形尺寸：寬200×80×深200（mm）,重1.5kg

• 作原理

    方塊電阻的定義見附錄，鍍金屬塑料薄膜方塊電阻的測試可以

采用四探針測試原理。測試探頭上的四個探針等距離分布，“1、4”探針提供測試電流，“2、3”探針提取電位差。在膜寬大大于探針間距時，就可以計算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。儀器內根據這個比值自動計算出方阻大小。

等效四端電阻測試采用電流電壓法測試原理，原理如圖所示。由恒流源輸出恒穩的電流供給被測電阻Rx，恒定電流的大小由K1選擇，該選擇也即決定儀器的量程。Rx上的電壓降經直流放大器放大后，送到數

字顯示電路。因Rx=V/I，數字顯示電路根據直流放大器送來的V和恒流源送來的代表I的信號（即基準信號），即可顯示出Rx的大小。

因為采用了電流電壓法的四端測試原理，這樣就可以消除端口接觸電阻和引線電阻的影響，保證了測試度。消除端口電阻影響的原理是，供給電流的端口1、4，也稱為I端口，由于恒流源輸出的電流不受外電阻的影響，所以1、4端口存在的雜散電阻不會改變流過Rx電流的大小，也即不會影響電阻測試的準確度。提取電壓降的端口2、3也稱為V端口或P端口。由于直流電壓放大器是輸入阻抗放大器，2、3端口即使存在幾十歐姆的雜散電阻，也不會影響放大器得到的輸入電壓，這樣儀器便能測試小到幾個毫歐的電阻，而不會受到測試線和端口雜散電阻的影響。

三、使用方法

1. 開啟位于儀器后的電源開關，予熱5分種。

    2、把被測薄膜有鍍層面朝上放在平整的桌面上，硬度要適中。

    3、把探頭放在要測的位，輕輕壓下，選擇合適的量程，即可從方阻儀上顯示出鍍層的方阻值。

    4、根據四探針測試原理要求，探頭與鍍膜邊緣要有定的距離，才能保證有較準確的讀數。因此探頭與被測鍍膜的邊緣不能太近。如定需要，也應使探針的排列與邊緣成垂直狀態。同理，在膜窄時也應采取這樣的措施。但要注意的是：雖然采取這樣的措施，也會使讀數上升5%-20%，由探針與邊緣距離的大小決定。

5、儀器的零點檢查

    由于儀器的zui大零點飄移量小于±1個字，所以平常使用時不需行零點檢查。但經過半年，或有故障時應檢查次零點，方法如下：

方法，找塊光潔的紫銅板，量程置于大量程檔，把探頭壓在紫銅板上，此時讀數應為零。

方法二：找四根帶香蕉插頭的測試線，把1、4端聯在起，2、3端聯在起，然后再找根導線把兩個端頭聯在起，如圖二所示。此時按儀器何量程，均應顯示零。如各量程的零點偏差小于2個字，可以調節儀器內，印刷左上的零點微調，使偏差為零。如各量程的零點偏差大于2個字，則表示儀器有故障，應送回本廠修理。

• 儀器的計量與維護

1. 檢查儀器的零點。

    2、儀器的計量可用0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω五只標準電阻檢查儀器的五個量程。

    計量時準備四根帶香蕉插頭和鱷魚夾的測試線，按圖三所示的方法聯接儀器和標準電阻。用0.1Ω計量2000mΩ量程，此時讀數應為453mΩ。用1Ω計量 20Ω量程，此時讀數應為4.53Ω。用10Ω計量200Ω量程，此時的讀數應為45.3Ω。用100Ω計量2000Ω量程，此時的讀數應為453Ω。計量結果應滿足參數中關于誤差的規定。

    般情況下，可用只1Ω或者2Ω，度為分之二的標準電阻，計量儀器的20Ω量程，讀數應為標準電阻值乘上4.532倍。如差，可卸下儀器的四個橡皮腳螺絲，取下上蓋，調節電路板中的微調電阻，使讀數準確。

    2、儀器出故障時，應檢查測試探頭上的四根測試線是否聯接好，以及電源分的電纜、插頭、插座、保險絲等是否好。如確系儀器內故障應送回本公司修理，因集成電路和電阻都經過配對，自行修理有可能成難以恢復的損壞。本儀器實行三包，免費修理期為年。

    3、儀器應避免在潮濕的環境下使用。不使用時應用塑料罩了，以防水汽和灰塵的影響。

附錄：什么是方阻

蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料，衡量它們厚度的方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻，個正方形的薄膜導電材料邊到邊“之”間的電阻，如圖所示，即B邊到C邊的電阻值。方塊電阻有個特性，即意大小的正方形邊到邊的電阻都是樣的，不管邊長是1米還是0.1米，它們的方阻都是樣，這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關。

方塊電阻如何測試呢，可不可以用表電阻檔直接測試圖所示的材料呢？不可以的，因表的表筆只能測試點到點之間的電阻，而這個點到點之間的電阻不表示何意義。如要測試方阻，我們需要在A邊和B邊各壓上個電阻比導電膜電阻小得多的圓銅棒，而且這個圓銅棒光潔度要，以便和導電膜接觸良好。這樣我們就可以通過用表測試兩銅棒之間的電阻來測出導電薄膜材料的方阻。如果方阻值小，如在幾個歐姆以下，因為存在接觸電阻以及表本身性能等因素，用表測試就會存在讀數不穩和測不準的情況。這時就需要用專門的用四端測試的低電阻測試儀器，如毫歐計、微歐儀等。測試方法如下：用四根光潔的圓銅棒壓在導電薄膜上，如圖二所示。四根銅棒用A、B、C、D表示，它們上面焊有導線接到毫歐計上，我們使BC之間的距離L等于導電薄膜的寬度W，至于AB、CD之間的距離沒有要求，般在10--20mm就可以了，接通毫歐計以后，毫歐計顯示的阻值就是材料的方阻值。這種測試方法的優點是：（1）用這種方法毫歐計可以測試到幾百毫歐，幾十毫歐，甚至更小的方阻值，（2）由于采用四端測試，銅棒和導電膜之間的接觸電阻，銅棒到儀器的引線電阻，即使比被測電阻大也不會影響測試度。（3）測試度。由于毫歐計等儀器的度很，方阻的測試度主要由膜寬W和導電棒BC之間的距離L的機械度決定，由于尺寸大，這個機械度可以做得。在實際操作時，為了提測試度和為了測試長條狀材料，W和L不定相等，可以使L比W

大很多，此時方阻Rs=Rx*W/L,Rx為毫歐計讀數。

此方法雖然度，但麻煩，尤其在導電薄膜材料大，形狀不整齊時，很難測試，這時就需要用的四探針探頭來測試材料的方阻，如圖三所示。探頭由四根探針阻成，要求四根探針頭的距離相等。四根探針由四根引聯接到方阻測試儀上，當探頭壓在導電薄膜材料上面時，方阻計就能立即顯示出材料的方阻值，具體原理是外端的兩根探針產生電流場，內端上兩根探針測試電流場在這兩個探點上形成的電勢。因為方阻越大，產生的電勢也越大，因此就可以測出材料的方阻值。需要提出的是雖然都是四端測試，但原理上與圖二所示用銅棒測方阻的方法不同。因電流場中僅少分電流在BC點上產生電壓（電勢）。所示靈敏度要低得多，比值為1：4.53。

影響探頭法測試方阻度的因素：（1）要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距，般要求10倍以上。（2）要求探針頭之間的距離相等，否則就要產生等比例測試誤差。（3）理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時，因針狀電容易破壞被測試的導電薄膜材料，所以般采用圓形探針頭。

zui后談談實際應用中存在的問題

    1、如果被測導電薄膜材料表面上不干凈，存在油污或材料暴露在空氣中時間過長，形成氧化層，會影響測試穩定性和測試度。在測試中需要引起注意。

    2、如探頭的探針油污等也會引起測試不穩，此時可以把探頭在干凈的白紙上滑動幾下擦擦就可以了。

    3、如果材料是蒸發鋁膜等，蒸發的厚度又太薄的話，形成的鋁膜不能均勻的連成片，而是形成點狀分布，此時方塊電阻值會大大增加，與通過稱重法計算的厚度和方阻值不樣，此時就要考慮到加入修正系數

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